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Réalisation de lames minces pour la microscopie électronique en transmission

29 janvier 2016

Réalisation de lames minces pour la microscopie électronique en transmission

 


 

Vue d’une section transverse d’un échantillon de YFeO3 déposé sur SrTiO3 lors de l’amincissement ionique par l’ion slicer.

 

En a), image MET obtenue à partir de la section transverse réalisée ci-dessus. A l’interface film/substrat en b), YFeO3 croît sous la forme de domaines orientés de petites tailles alors qu’une seule orientation cristallographique est privilégiée loin de l’interface conduisant à une croissance en colonne du film de YFeO3 (schéma de gauche). Cette microstructure particulière permet d’exacerber les propriétés magnétiques de ce composé.

 

Crédits : les illustrations de cette page sont issues d’une étude réalisée dans le cadre du réseau METSA sur une proposition d’expérience de M. J. Scola (GEMAC Versailles UMR CNRS 8635) avec M. P. Boullay (CRISMAT) comme correspondant local. La préparation d’échantillon a été réalisée par M. L. Gouleuf (CRISMAT).