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Accueil du site > Divers > Soutien à la recherche > Microscopes électroniques à balayage > zeiss francais

zeiss francais

2 juillet 2010

Description :


Microscope Electronique à Balayage à Effet de Champ Carl ZEISS SUPRA 55.

 

 

Le système de détection est composé d’un détecteur d’électrons secondaires « in-lens » ou SE1, d’un détecteur d’électrons secondaires Everhart Thornley ou SE2 avec un « collector bias » ajustable de -250 à + 400 V situé dans la chambre et d’un détecteur d’électrons rétrodiffusés AsB situé à l’extrémité de la colonne. La chambre est également équipée d’une caméra InfraRouge aidant le positionnement de la platine.
Quelques caractéristiques :
Dimension de la chambre : Ф=330 mm et h = 270 mm
Tension d’accélération : 0.1-30 kV
Grossissement : 12-900000x en mode SE et 100-900000x en mode AsB
Distance focale : 1-50 mm


Système d’analyse associé EDAX :
EDS (Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy).
WDS (Wavelenght Dispersive X-Ray Spectroscopy).
EBSD (Electron Backscatter Diffraction).

Possibilités :


La production des électrons par le filament à Effet de Champ combinée à la possibilité d’une distance focale de 1 mm permet de travailler à faible tension d’accélération et donc d’observer des échantillons non conducteurs électriquement.

Le système EDS qui a une résolution de 120 eV permet de faire rapidement des analyses qualitative et quantitative.
Le système WDS qui a une résolution de 20 eV permet de faire de l’analyse quantitative. Très utile quand des pics se chevauchent en EDS.
Le système d’analyse EBSD permet d’avoir accès à l’orientation cristalline.

 

 

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