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Accueil du site > Divers > Soutien à la recherche > Ion Slicer > Exemple de préparation mécanique d’échantillons en lames minces pour la microscopie électronique en transmission

Exemple de préparation mécanique d’échantillons en lames minces pour la microscopie électronique en transmission

29 janvier 2016

Voici, les différentes étapes de la préparation d’une cross-section, ici sur une couche mince, par exemple :

1) Couche mince déposée sur un substrat dont on veut obtenir une image par MET.


2) Collage d’une plaque de verre contre la couche mince :


3) La couche mince est ensuite serrée contre une plaque de verre :


4) L’échantillon collé est ensuite mis sous vide afin d’évacuer les bulles d’air de la colle :


5) On procède ensuite au durcissement thermique de la colle à l’aide d’une plaque chauffante :


6) Voici maintenant l’échantillon sur son support de coupe pour ensuite le découper en fines lamelles :

7) Une fois l’obtention de lamelles de taille appropriée à la microscopie électronique en transmission, une lamelle est insérée dans une résine afin de la polir :


puis insérée dans une polisseuse mécanique :


8) Une fois le polissage terminé, la lame mince est installée sur une support d’amincissement ionique :


pour ensuite être introduite dans l’Ion Slicer en position d’amincissement :


S’en suivra les opérations d’amincissement à l’aide de l’Ion Slicer comme dans les exemples suivants.