Partenaires

Logo tutelle CNRS
Logo tutelle Ensicaen
Logo tutelle Unicaen
Logo CNRT
Logo Labex EMC3
Logo Carnot


Rechercher

Sur ce site

Sur le Web du CNRS


Intranet Webmail

Accueil du site > Parc Technique > Analyses

Analyses

Analyses de Surfaces :

- XPS - Xray Photoelectron Spectroscopy

- AES - Auger Electron Spectroscopy

- ISS - Ion Scattering Spectroscopy

- SIMS - Secondary Ion Mass Spectroscopy

- Imagerie SEM, SAM, SIMS

Microscopes Optiques :

Analyseur Dilatomètrique :

- 1 Dilatomètre

Cartographie de Champs Supraconducteurs :

Analyse thermique différentielle :

- ATD

Differential scanning calorimeter :

- ATG/DSC

- Résistivité et Seebeck à haute température (ZEM3)

- 1Diffusivité Thermique

- 1Impédencemètre